產(chan)品搜(sou)索
選(xuan)擇接地(di)電阻測試儀需(xu)要考(kao)慮的幾(ji)個問題
?測試場地是(shi)否具有較(jiao)高的(de)(de)土壤(rang)電(dian)阻率和(he)/或需要較(jiao)長的(de)(de)測試引線?
??將要測試的(de)區(qu)域(yu)的(de)土壤(rang)電(dian)阻率(lv)是(shi)否(fou)很高，或(huo)者輔助桿(gan)執(zhi)行(xing)電(dian)位下降測試所(suo)需的(de)距離(li)是(shi)否(fou)異常長。如(ru)果這些問題中的(de)一個(ge)或(huo)兩(liang)個(ge)的(de)答案(an)都是(shi)肯定的(de)，并且您打算執(zhi)行(xing)電(dian)位下降和(he)/或(huo)土壤(rang)電(dian)阻率(lv)測試，則(ze)必須考慮(lv)儀器的(de)注(zhu)入電(dian)流(liu)和(he)測試電(dian)壓。典型的(de)注(zhu)入電(dian)流(liu)范圍(wei)從幾毫安到幾百毫安。
??高(gao)土壤(rang)電阻率(lv)通常對(dui)輔(fu)助(zhu)電極(ji)產生(sheng)高(gao)接(jie)(jie)觸(chu)電阻。當使(shi)用(yong)通常提供(gong)10mA測試(shi)(shi)電流(liu)的低成本(ben)接(jie)(jie)地(di)電阻測試(shi)(shi)儀時，這(zhe)可能會(hui)引起關注; 因此，在這(zhe)種情況下(xia)，我們建議使(shi)用(yong)能夠提供(gong)更高(gao)測試(shi)(shi)電流(liu)的接(jie)(jie)地(di)電阻測試(shi)(shi)儀。在我們離開輔(fu)助(zhu)電極(ji)的話題(ti)之前，請注意，夾式接(jie)(jie)地(di)電阻測試(shi)(shi)儀不(bu)需要任何輔(fu)助(zhu)桿(gan)或引線。另(ling)一(yi)個優點(dian)是您無需使(shi)用(yong)接(jie)(jie)地(di)系統來執行測試(shi)(shi)。
是否存在電磁(ci)干擾(rao)(EMI)?
??另一個需要考慮的(de)問(wen)題(ti)是(shi)(shi)測(ce)試(shi)(shi)現場是(shi)(shi)否存在電磁干擾或(huo)EMI。EMI會導(dao)致讀數不(bu)穩定或(huo)不(bu)準(zhun)確，特別是(shi)(shi)在較(jiao)低的(de)測(ce)試(shi)(shi)頻率(lv)下。常見的(de)測(ce)試(shi)(shi)頻率(lv)是(shi)(shi)128Hz。具(ju)有(you)自(zi)動測(ce)試(shi)(shi)頻率(lv)選擇功能的(de)接地電阻測(ce)試(shi)(shi)儀可(ke)(ke)以(yi)找(zhao)到(dao)"干凈"的(de)可(ke)(ke)用頻率(lv)，這在高EMI環境中具(ju)有(you)優勢。
??鉗式接地電阻測(ce)試(shi)儀在這(zhe)些(xie)位置(zhi)也可(ke)以(yi)(yi)有效，因(yin)為它們(men)通常在較(jiao)高(gao)(gao)頻(pin)率(lv)下進行測(ce)試(shi)。較(jiao)新的(de)(de)AEMC鉗式模型還(huan)提供測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)選擇。請(qing)注意，在某些(xie)高(gao)(gao)感應環境(jing)中，較(jiao)低的(de)(de)測(ce)試(shi)頻(pin)率(lv)可(ke)以(yi)(yi)產生更可(ke)靠的(de)(de)結(jie)果(guo)。
??如何使用測量數據?
??接(jie)地電阻測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀的選擇(ze)還取決于您(nin)打算(suan)(suan)如(ru)(ru)何使用獲得的數(shu)據。例如(ru)(ru)，如(ru)(ru)果您(nin)計劃保存，分析(xi)和(he)(he)分發測(ce)試(shi)(shi)(shi)結果，則(ze)數(shu)據存儲和(he)(he)報告生成將成為重要的考(kao)慮因素(su)。更新，更智能的接(jie)地電阻測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀，包(bao)括3極和(he)(he)4極測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀和(he)(he)鉗式模(mo)型，可以將測(ce)試(shi)(shi)(shi)結果存儲在內部存儲器中。然后，可以使用計算(suan)(suan)機(ji)上運行的軟(ruan)件或(huo)智能手(shou)機(ji)和(he)(he)平板電腦的移動應用程序下載和(he)(he)分析(xi)此數(shu)據。
??是(shi)否需要測試接地系統組(zu)件(jian)的連接?
??如果計劃測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)由(you)包括地(di)墊或網格(ge)在(zai)內的(de)許(xu)多(duo)組(zu)(zu)件組(zu)(zu)成的(de)復(fu)雜接地(di)系統，則需要測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)各種元(yuan)件之間的(de)連接的(de)連續性。該測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)通(tong)常使(shi)用(yong)DC電(dian)(dian)(dian)壓和電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)進(jin)(jin)行(xing)(xing)。多(duo)個接地(di)電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀提供此功(gong)能(neng)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)高達幾百毫(hao)安。此外，可以使(shi)用(yong)微(wei)歐姆表進(jin)(jin)行(xing)(xing)更(geng)完整的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。使(shi)用(yong)該數字接地(di)電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)儀的(de)優勢在(zai)于(yu)能(neng)夠在(zai)高達200A的(de)高測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)下進(jin)(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)。這(zhe)可以揭示在(zai)使(shi)用(yong)毫(hao)安范圍電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)進(jin)(jin)行(xing)(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)時(shi)并(bing)不總是顯露出的(de)問題區域。
