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選擇(ze)接地電(dian)阻測試(shi)儀需要考慮的幾個(ge)問(wen)題：
?測試場地是否具有較(jiao)(jiao)高的土壤電阻(zu)率和/或需要較(jiao)(jiao)長的測試引(yin)線?
??將(jiang)要測試的(de)區域的(de)土壤電(dian)(dian)(dian)阻率是否很高，或(huo)者輔助桿執(zhi)行電(dian)(dian)(dian)位下(xia)降測試所需的(de)距離是否異常(chang)長。如(ru)果(guo)這些問題中的(de)一個或(huo)兩個的(de)答案(an)都是肯定的(de)，并且您打算執(zhi)行電(dian)(dian)(dian)位下(xia)降和/或(huo)土壤電(dian)(dian)(dian)阻率測試，則必須考慮(lv)儀器的(de)注入電(dian)(dian)(dian)流和測試電(dian)(dian)(dian)壓。典型(xing)的(de)注入電(dian)(dian)(dian)流范圍(wei)從幾毫(hao)安(an)到幾百毫(hao)安(an)。
??高(gao)土(tu)壤電(dian)阻(zu)率通(tong)常(chang)對(dui)輔助電(dian)極產生高(gao)接(jie)(jie)(jie)觸電(dian)阻(zu)。當使(shi)用(yong)通(tong)常(chang)提供(gong)10mA測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流的(de)低(di)成本(ben)接(jie)(jie)(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)時，這可能(neng)會引起關注; 因此，在這種(zhong)情(qing)況(kuang)下，我們建議使(shi)用(yong)能(neng)夠(gou)提供(gong)更高(gao)測(ce)(ce)試(shi)(shi)電(dian)流的(de)接(jie)(jie)(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)。在我們離開輔助電(dian)極的(de)話題之前，請注意，夾式(shi)接(jie)(jie)(jie)地電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)不需(xu)要任何輔助桿或(huo)引線(xian)。另一個(ge)優點是您(nin)無需(xu)使(shi)用(yong)接(jie)(jie)(jie)地系統來執行(xing)測(ce)(ce)試(shi)(shi)。
是否存在電磁干擾(EMI)?
??另一個需要考慮的(de)(de)問(wen)題是(shi)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)現(xian)場(chang)是(shi)否存在(zai)電磁干(gan)擾或EMI。EMI會導(dao)致讀數不穩定或不準確，特別是(shi)在(zai)較低的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)下。常(chang)見(jian)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)是(shi)128Hz。具有自動測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)頻(pin)(pin)率(lv)選(xuan)擇功能(neng)的(de)(de)接地(di)電阻測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)儀可以找到(dao)"干(gan)凈"的(de)(de)可用頻(pin)(pin)率(lv)，這在(zai)高(gao)EMI環境中具有優勢。
??鉗式(shi)接(jie)地電阻測試(shi)儀在(zai)這些(xie)位(wei)置也可(ke)以有效，因(yin)為它(ta)們(men)通常在(zai)較高頻率(lv)下進行測試(shi)。較新的(de)AEMC鉗式(shi)模型還提供測試(shi)頻率(lv)選擇。請注意，在(zai)某些(xie)高感應環境中，較低的(de)測試(shi)頻率(lv)可(ke)以產(chan)生(sheng)更可(ke)靠的(de)結果。
??如何使(shi)用測量數據?
??接地(di)電阻測(ce)試(shi)儀的選擇還取(qu)決于您(nin)打算如(ru)何(he)使用(yong)獲(huo)得(de)的數據(ju)(ju)。例(li)如(ru)，如(ru)果(guo)您(nin)計劃保存(cun)，分析(xi)和(he)(he)分發測(ce)試(shi)結果(guo)，則數據(ju)(ju)存(cun)儲和(he)(he)報(bao)告生成將成為重要的考慮因素。更新，更智能(neng)的接地(di)電阻測(ce)試(shi)儀，包括3極(ji)和(he)(he)4極(ji)測(ce)試(shi)儀和(he)(he)鉗式(shi)模型，可以將測(ce)試(shi)結果(guo)存(cun)儲在內部(bu)存(cun)儲器中。然后，可以使用(yong)計算機上運(yun)行的軟件或智能(neng)手機和(he)(he)平板電腦的移(yi)動應(ying)用(yong)程序下載和(he)(he)分析(xi)此數據(ju)(ju)。
??是否需要測(ce)試(shi)接地系統組件的連接?
??如果計劃測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)由(you)包括地(di)(di)墊或(huo)網格在內(nei)的(de)(de)(de)許多(duo)組(zu)件組(zu)成的(de)(de)(de)復雜接地(di)(di)系統，則需(xu)要測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)各種元件之間的(de)(de)(de)連(lian)接的(de)(de)(de)連(lian)續性。該測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)通常使(shi)用(yong)DC電(dian)壓和電(dian)流進(jin)行(xing)。多(duo)個(ge)接地(di)(di)電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀提供此(ci)功能(neng)，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)流高(gao)達(da)幾百(bai)毫安。此(ci)外(wai)，可以(yi)使(shi)用(yong)微歐姆(mu)表進(jin)行(xing)更完整的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。使(shi)用(yong)該數字接地(di)(di)電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)儀的(de)(de)(de)優勢在于能(neng)夠(gou)在高(gao)達(da)200A的(de)(de)(de)高(gao)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)流下進(jin)行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。這可以(yi)揭示在使(shi)用(yong)毫安范圍電(dian)流進(jin)行(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時(shi)并不總是顯露出的(de)(de)(de)問題區域。
