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局部(bu)放電(dian)(dian)檢(jian)測(ce)儀(yi)（局放儀(yi)）可廣泛(fan)應用于電(dian)(dian)力系統的局部(bu)放電(dian)(dian)檢(jian)測(ce)，包括(kuo)高壓(ya)開關柜(ju)(ju)、環(huan)網柜(ju)(ju)、電(dian)(dian)壓(ya)/電(dian)(dian)流互感器、變壓(ya)器(包括(kuo)干式變壓(ya)器)、GIS、架(jia)空線(xian)路(lu)、電(dian)(dian)纜等設備的絕緣狀態檢(jian)測(ce)。下(xia)面(mian) 小(xiao)編為大家分(fen)享幾條局放儀(yi)使(shi)用注意(yi)。
局部放電檢(jian)測儀(yi)使用注意事項
1.局部放電檢測(ce)儀(yi)在(zai)試驗開始加壓(ya)以前(qian)，試驗人員必須詳細而(er)全面地(di)檢查一遍線(xian)(xian)路(lu)(lu)，以免線(xian)(xian)路(lu)(lu)接錯(cuo)。測(ce)試儀(yi)器處的接地(di)線(xian)(xian)是(shi)否與(yu)接地(di)體(ti)牢固連接，若連接不牢或(huo)在(zai)準(zhun)備工作時(shi)掐(qia)頭去尾線(xian)(xian)被腳踢斷，這(zhe)將可能引起人身和設備事(shi)故。
2.對于連接(jie)線(xian)應避免將暴露(lu)在外，防(fang)止電(dian)(dian)(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)(dian)(dian)，尤其對于電(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)等級較(jiao)高(gao)的(de)局部放電(dian)(dian)(dian)(dian)試驗，必要時要加(jia)(jia)粗高(gao)壓(ya)連接(jie)線(xian)及加(jia)(jia)裝(zhuang)防(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)暈(yun)罩(zhao)，減小因場強過高(gao)引起的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)(dian)(dian)。屏蔽罩(zhao)不(bu)能與(yu)試品的(de)瓷裙相接(jie)觸。
3.一般情(qing)況下，在(zai)(zai)試驗(yan)過程中(zhong)，被試品在(zai)(zai)耐壓(ya)、預(yu)升壓(ya)時局部(bu)放電(dian)量(liang)都(dou)比正常(chang)值大很(hen)多(duo)，此時儀器(qi)的(de)儀表必然(ran)會超出(chu)滿刻(ke)度。為(wei)防(fang)止(zhi)儀器(qi)損壞，應(ying)將(jiang)儀器(qi)的(de)增(zeng)(zeng)益粗(cu)(cu)調(diao)(diao)旋(xuan)鈕逆時針旋(xuan)轉一檔(dang)(dang)或更多(duo)檔(dang)(dang)，以不超出(chu)滿刻(ke)度為(wei)標準。當電(dian)壓(ya)降至測(ce)量(liang)電(dian)壓(ya)時，再(zai)將(jiang)增(zeng)(zeng)益粗(cu)(cu)調(diao)(diao)開關順時針旋(xuan)轉一檔(dang)(dang)或更多(duo)檔(dang)(dang)，以便記錄測(ce)量(liang)值。
4.校正(zheng)電(dian)量(liang)發(fa)生器(qi)校正(zheng)完畢(bi)后，一定要從高壓(ya)端脫離，并關閉電(dian)源開(kai)關，且(qie)儀器(qi)的增(zeng)益(yi)細調旋鈕(niu)不可(ke)再調。因增(zeng)益(yi)粗調開(kai)關每相鄰兩檔(dang)之(zhi)間(jian)的關系(xi)是十(shi)倍，且(qie)檔(dang)位有指示，故升壓(ya)后根據放電(dian)量(liang)大小，可(ke)選擇合適量(liang)程(cheng)。逆(ni)時針(zhen)旋轉時，每降一檔(dang)量(liang)程(cheng)擴大十(shi)倍;反之(zhi)，順時針(zhen)時，量(liang)程(cheng)縮小十(shi)倍。
5.局部放(fang)電測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)完(wan)畢(bi)后，應對整個測(ce)(ce)試(shi)系(xi)(xi)統再進行一(yi)次復查(cha)校(xiao)正(zheng)，驗(yan)(yan)(yan)證是(shi)否與試(shi)驗(yan)(yan)(yan)前所校(xiao)正(zheng)出的刻(ke)度系(xi)(xi)數(shu)相等，以免測(ce)(ce)試(shi)儀(yi)器或其它環節在(zai)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)過程中發生故障而使測(ce)(ce)試(shi)結果不對。
